4278A

Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測(cè)試儀|惠普
:安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
Agilent 4278A詳細(xì)資料：
測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms 
測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G 
C-D測(cè)量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)

0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生
產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。

技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量參數(shù)
C-D，Q，ESR，G
測(cè)試信號(hào)
頻率：
1kHz和1MHz±0.02%
信號(hào)電平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)
測(cè)量時(shí)間：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
測(cè)量范圍
測(cè)量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
電纜長度補(bǔ)償
0,1或2m
比較器：
對(duì)電容的10倉室分類，對(duì)D、Q、ESR和G的合格/不合格測(cè)試
存儲(chǔ)卡插槽
外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對(duì)控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用（存儲(chǔ)卡可任選，參見下面的選件

004）。

一般技術(shù)指標(biāo)：
工作溫度/濕度
5°~45℃，在40℃時(shí)相對(duì)濕度為95%
電源