X熒光光譜儀

價格
電議

型號
NDA300

品牌
卓越

所在地
暫無

更新時間
2019-02-13 19:25:02

瀏覽次數(shù)

    應用領域

    ?RoHS指令篩選檢測

    ?無鹵指令篩選檢測

    ?玩具指令篩選檢測

    ?日用消費品中限制元素篩選檢測

    ?合金成分分析

    ? 土壤、污水重金屬檢測

    技術特點

    ?配置新技術“樣品免拆分”檢測模式:采用新技術的光路結構,小照射光斑直徑可達到0.5mm,輔以的光斑定位系統(tǒng),從而可以實現(xiàn)對復雜樣品進行免拆分直接測量的要求

     

     

    ?配置符合標準的樣品混測功能:方形4mmⅩ4mm光斑設計,配合0.5mm光斑配合使用,能夠對電路板等復雜樣品實現(xiàn)“免拆分”區(qū)域掃描測量功能;從而顯著節(jié)省測量時間,大幅度提高檢測效率

    ?配置On-Line實時在線技術支持系統(tǒng)(選配):實時解決用戶在使用過程中的疑難技術問題,同時對用戶操作人員進行培訓

     

    ?配置十六組復合濾光片:NDA300型配置了16組復合型濾光片,是業(yè)界配置全、數(shù)目多的配置;16組濾光片的配置,極大的保證了XRF分析儀針對各種復雜樣品檢測的適應性

     

    ?內置標準工作曲線:儀器內置了滿足EU-RoHS以及CHINA-RoHS產(chǎn)品要求的基礎材料的工作曲線,方便用戶直接使用;并與的檢測實驗室保持一致

     

    ?具備開放的工作曲線技術平臺:基于開放的工作曲線技術平臺,電子生產(chǎn)企業(yè)可以建立針對自己工廠特定物料的工作曲線,確保XRF分析儀檢測結果的可靠性和準確性

     

    ?分析軟件操作系統(tǒng)分級管理:儀器系統(tǒng)軟件配置了操作員、工程師兩級操作功能菜單,便于工廠有序管理;操作員菜單簡單直觀,避免儀器重要參數(shù)的誤修改;工程師菜單功能強大,儀器的各種參數(shù)設置權限全部開放給用戶

     

     

    ?采用經(jīng)典的迷宮式輻射防護結構:采用了經(jīng)典的迷宮式輻射防護結構,在保持儀器外形美觀操作方便的同時,杜絕低能散射X射線的泄露

     

    ?配置技術“影響權系數(shù)法”多層鍍層測厚功能:納優(yōu)科技獨創(chuàng)的“影響權系數(shù)法”多層鍍層測厚技術,顯著提高鍍層厚度測量的準確度;大可測量鍍層數(shù)量為9層;解決了常規(guī)XRF測厚方法所不能解決的塑料基體鍍層厚度測量的技術難題

    ?外觀設計實用美觀:符合人體工程學的儀器外形設計,操作人員測量過程方便舒適

     

     

    分析方法及系統(tǒng)軟件

    分析方法配置:

     

    ? 基于蒙特卡洛計算模型的基本參數(shù)法

    ? 經(jīng)驗系數(shù)法

    ? 理論α系數(shù)法

    軟件功能描述:

     

    ? RoHS指令、無鹵指令等環(huán)保指令所限制的Pb、HgCd、TCrTBr、Cl等元素含量的分析

    ? 各種金屬材料、無機非金屬材料(不包括聚合物材料)的材質分析(SU元素)

    ? 聚合物等有機材料中硫(S)~鈾(U)元素的含量分析

    ? 分析報告的定制與輸出打印

    ? 分析結果的保存、查詢及統(tǒng)計

    On-Line實時在線技術支持與技術服務功能

    ? 多層鍍層厚度測量功能

     

    產(chǎn)品參數(shù)

     

    ?名稱:X熒光光譜儀

    ?型號:NDA300

    ?輸入電壓:220±5V/50Hz

    ?消耗功率:≤500W

    ?環(huán)境溫度:15-30℃

    ?環(huán)境濕度:≤80%(不結露)

    ?主機外形(mm:長*寬*高=900*500*440

    ?樣品倉(mm:長*寬*高=430*380*120

    ?主機重量:約60公斤

     

    主要配置

    ?SDD硅漂移電制冷半導體探測器

    ?側窗鉬(Mo)靶管

    ?標配16組復合濾光片

    ?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器

    ?具備符合標準的樣品混側功能

    ?內置標準工作曲線

    ?配置On-line實時在線技術支持與服務平臺

    ?具備開放工作曲線技術平臺

    ?分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

     

     

    技術指標

     

    ?元素種類:元素周期表中硫(S)~鈾(U)之間元素

    ?測量時間:

            對聚合物材料,典型測量時間為30

            對銅基體材料,典型測量時間為30

    ?檢出限指標(LOD):

            對聚合物材料:LODPb)≤5mg/KgLODHg)≤5mg/Kg;LODTCr)≤5mg/Kg;LODTBr)≤5mg/KgLODCd)≤5mg/Kg

            對銅基體材料:LODPb)≤50mg/Kg

    ?精密度指標,以連續(xù)測量7次的標準偏差σ表征:

        對聚合物(塑膠)材料:LODPb)≤15mg/Kg;LODHg)≤15mg/Kg;LODTCr)≤15mg/KgLODTBr)≤15mg/Kg;LODCd)≤7mg/Kg

            對銅基體材料:LODPb)≤50mg/Kg

    ?準確度指標,以系統(tǒng)偏差δ進行表征

            對聚合物材料:δ(Pb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg

            對銅基體材料:δ(Pb)≤150mg/Kg

     

    應用示例:銅合金測試

                                                      

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