X熒光鍍層測厚儀廠家

發(fā)布時間：2024/11/20 10:47:36 發(fā)布廠商：江蘇天瑞儀器股份有限公司 >> 進(jìn)入該公司展臺

X熒光測厚儀鍍層樣品測試注意事項(xiàng)
先要確認(rèn)基材和各層鍍層金屬成分及鍍層元素次序，天瑞XRF熒光測厚儀多可以測5層金屬鍍層厚度。
通過對鍍層基材的測定，確定基材中是否含有對鍍層元素特征譜線有影響的物質(zhì)，比如PCB印刷版基材中環(huán)氧樹脂中的Br 。
對于底材成分不是純元素的，并且同標(biāo)準(zhǔn)片底材元素含量不一致的，則需要進(jìn)行基材修正，選用樣品所相似的底材進(jìn)行曲線。
X-ray鍍層測厚儀

X熒光測厚儀特點(diǎn)
1.上照式
2.高分辨率探測器
3.鼠位測試點(diǎn)
4.測試組件可升降
5.可視化操作
6良好的射線屛蔽
7.高格度移動平臺
8.自動定位高度
9.大樣品腔
10 .小孔準(zhǔn)直器
11.自動尋找光斑
12.測試防護(hù)
X-ray鍍層測厚儀

應(yīng)用優(yōu)勢
X熒光測厚儀針對不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過軟件操作樣品移動平臺，實(shí)現(xiàn)不同測試點(diǎn)的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器，實(shí)現(xiàn)對多鍍層樣品的分析；
內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護(hù)測試窗口不被樣品撞擊。
X-ray鍍層測厚儀

X熒光測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
樣品處理方法簡單或無前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析
譜線峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無損分析
試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)
設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單
便捷、低廉的售后服務(wù)保證

鍍層測厚儀

鍍層分析儀

鍍層膜厚儀

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