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XRF光譜儀可對鍍層的厚度與成分進行分析

來源: 江蘇天瑞儀器股份有限公司 >> 進入該公司展臺 2022/09/14 15:56:51 已瀏覽:
導(dǎo)讀:公司*從事光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。

XRF光譜儀可對鍍層的厚度與成分進行分析

XRF可對鍍層厚度與成分進行快速、高效、無損和準確的分析。XRF光譜儀的主要部件:

1、X射線管:儀器的一部分,產(chǎn)生照射樣品的X射線。

2、光圈:光圈是引導(dǎo)X射線指向樣品的裝置的部分。XRF儀器中的光圈將決定光斑尺寸——正確的光圈選擇對度和測量效率至關(guān)重要。

3、探測器:與相關(guān)電子設(shè)備一并處理從樣品中激發(fā)出的X射線:探測X射線的能量和強度。

4、對焦系統(tǒng):確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且?guī)缀喂饴愤B續(xù)一致;否則會導(dǎo)致結(jié)果不準確。

5、相機:幫助用戶定位測量區(qū)域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息,或包括放大圖像以定位需要測量的區(qū)域。

6、樣品臺:樣品可放置于固定或可移動的樣品臺上。快速或慢速移動對于找到測試位置至關(guān)重要,隨后聚焦于準確的區(qū)域進行測量。工作臺移動的度是帶來測試定位準確的一個因素,并進而貢獻于儀器的整體準確度。

 
Think800A X熒光鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要,人性化的設(shè)計,使測試工作加輕松完成。Think800A 鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且的具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作人性化、方便。廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。

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