FAI 微光發(fā)射顯微鏡EMMI

價(jià)格
電議

型號(hào)
FAI

品牌
FAI

所在地
北京市 海淀區(qū)

更新時(shí)間
2024-01-23 11:46:47

瀏覽次數(shù)
次

    FAI 微光發(fā)射顯微鏡（EMMI）用于檢測(cè)半導(dǎo)體內(nèi)部缺陷引起的微光發(fā)射或微熱發(fā)射來準(zhǔn)確定位半導(dǎo)體器件的失效位置。
    FAI 微光發(fā)射顯微鏡（EMMI）
    FAI Photo Emmission Microscope

    FAI 微光發(fā)射顯微鏡用于檢測(cè)半導(dǎo)體內(nèi)部缺陷引起的微光發(fā)射或微熱發(fā)射來準(zhǔn)確定位半導(dǎo)體器件的失效位置。通過使用不同類型的探測(cè)器，或者配置雙激光掃描系統(tǒng)（SIFT），以及配合相應(yīng)的檢測(cè)軟件來實(shí)現(xiàn)對(duì)半導(dǎo)體元器件或芯片電路的微光、微熱、光激勵(lì)誘導(dǎo)失效測(cè)試等各種分析手段。

    FAI的Crystal Vision微光發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)對(duì)所配置探測(cè)器的數(shù)量沒有限制，可選擇配置從一個(gè)到我們提供的所有型號(hào)的探測(cè)器和SIFT激光掃描頭。

    主要功能

    CCD探測(cè)器：波長(zhǎng)探測(cè)范圍 365nm 至 1190nm；帶電子半導(dǎo)體制冷器（TEC）的CCD探測(cè)器，可冷卻穩(wěn)定在 -40℃以下，無(wú)需使用危險(xiǎn)的液氮制冷劑；CCD解析度為1280x1024；像素暗電流<0.002 電子/秒；讀噪聲<7 個(gè)電子；連續(xù)收集信號(hào)時(shí)間從32毫秒至2小時(shí)。

    InGaAs探測(cè)器：波長(zhǎng)探測(cè)范圍 900nm – 1750nm；帶電子半導(dǎo)體制冷器（TEC）的InGaAs探測(cè)器，可冷卻穩(wěn)定在 -40℃以下，無(wú)需使用危險(xiǎn)的液氮制冷劑； InGaAs探測(cè)器分辨率為320x240，像素點(diǎn)尺寸為30 x 30um，更大的像素點(diǎn)面積可以收集更少的光子，探測(cè)靈敏度是普通640x480 InGaAs探測(cè)器的4倍；連續(xù)收集信號(hào)時(shí)間從1微秒到60分鐘；有效波段范圍內(nèi)量子效率（QE）為 80-85%；靈敏度 NEI <1x1010 ph/cm2/sec；量子效率>70 QE 在950-1700nm范圍內(nèi)。

    VisGaAs 探測(cè)器：波長(zhǎng)探測(cè)范圍 500nm – 1800nm，代表了新技術(shù)的VisGaAs 探測(cè)器覆蓋了可見光-紅外光波長(zhǎng)檢測(cè)范圍，一個(gè)探頭就可替代傳統(tǒng)的CCD和InGaAs 兩個(gè)探測(cè)器；半導(dǎo)體制冷器（TEC） ，可冷卻穩(wěn)定在 -40℃以下。

    SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)雙波長(zhǎng)激光掃描頭：雙激光源654nm和1428nm；通過激光掃描芯片電路，導(dǎo)致失效位置電阻發(fā)生變化，通過檢測(cè)反饋信號(hào)的變化，從而檢測(cè)到失效位置；SIFT掃描不受物鏡視野限制，可以一次掃描完整整個(gè)檢測(cè)區(qū)域，無(wú)需圖像拼接，避免圖像扭曲；FAI的恒定電流附加反饋回路的技術(shù)，不但提高了檢測(cè)靈敏度，而且避免了檢測(cè)時(shí)電壓過高的風(fēng)險(xiǎn)；恒定焦距的定鏡掃描，可以將激光點(diǎn)停留在任意位置，用于確認(rèn)失效點(diǎn)。

    FMI熒光熱成像技術(shù)：FAI的微熱分析技術(shù)，熱分辨率是千分K(1/1000K)，可以室溫操作，無(wú)需使用危險(xiǎn)的液晶溶液。

    LC液晶熱成像技術(shù)：FAI的SLC（穩(wěn)定液晶）液晶熱成像技術(shù)的熱分辨率為百分K (1/100 K)。

    Moire云紋成像：從硅片背面采用“云紋圖像成像”的方式來檢測(cè)失效位置的微熱變化。

    以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，儀器儀表交易網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
    溫馨提示：為規(guī)避購(gòu)買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購(gòu)買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。

    其他推薦產(chǎn)品

    RKD 激光開封機(jī)
    RKD 激光開封機(jī)
    電議
    HB100 自動(dòng)楔焊和球焊鍵合機(jī)
    HB100 自動(dòng)楔焊和球
    電議
    HB75 手動(dòng)貼片機(jī)
    HB75 手動(dòng)貼片機(jī)
    電議
    TPT 半自動(dòng)焊線機(jī)
    TPT 半自動(dòng)焊線機(jī)
    電議
    Sonoscan AW系列 C-SAM 超聲波掃描顯微鏡
    Sonoscan AW系
    電議
    Sonoscan Fastline P300 超聲波掃描顯微鏡
    Sonoscan Fas
    電議
    DAGE STELLAR 4000 推拉力測(cè)試機(jī)
    DAGE STELLAR
    電議
    您是不是在找:
    金相顯微鏡生物顯微鏡熒光顯微鏡立體顯微鏡體視顯微鏡偏光顯微鏡工具顯微鏡測(cè)量顯微鏡紅外顯微鏡立體放大鏡視頻顯微鏡數(shù)碼顯微鏡顯微圖像分析系統(tǒng)其它顯微鏡

    首頁(yè)| 關(guān)于我們| 聯(lián)系我們| 友情鏈接| 廣告服務(wù)| 會(huì)員服務(wù)| 付款方式| 意見反饋| 法律聲明| 服務(wù)條款