日本日置LCR測(cè)試儀IM3533

應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域

基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。

在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。

內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測(cè)量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。

(測(cè)量速度是以往產(chǎn)品3522-50的10倍，大大提高了反復(fù)性和穩(wěn)定性)

模式，用于測(cè)量變壓器線圈比率，互感系數(shù)和溫度補(bǔ)償DCR。

頻率掃描測(cè)試(僅IM3533-01)

除標(biāo)準(zhǔn)0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置。

內(nèi)置比較器和BIN功能。

2ms的快速測(cè)試時(shí)間

基本參數(shù)

 IM3533IM3533-01測(cè)量模式測(cè)量參數(shù)測(cè)量量程可顯示量程基本精度測(cè)量頻率測(cè)量信號(hào)電平輸出阻抗顯示測(cè)量時(shí)間功能接口電源尺寸及重量附件

LCR，變壓器測(cè)試(N,M,△L)， 連續(xù)測(cè)試(LCR模式)LCR，變壓器測(cè)試(N,M,△L)， 分析儀(掃描測(cè)試)，連續(xù)測(cè)試(LCR/分析模式)

Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T

100mΩ～100MΩ,10個(gè)量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義)

Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:

± (0.000000 [單位] ～9.999999G [單位])

只有 Z和Y顯示真有效值

θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999)

Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%)

Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°

1mHz ～200kHz (1mHz ～10Hz步進(jìn))

[輸出阻抗]

V模式，CV模式：5mV～5Vrms,1mVrms

CC模式：10μA～50mArms,10μArms

[低阻抗高精度模式]

V模式，CV模式：5mV～2.5Vrms,1mVrms

CC模式：10μA～100mArms,10μArms

正常模式：100Ω,低阻抗高精度模式：25Ω

5.7英寸觸摸屏，彩色TFT，顯示可設(shè)置ON/OFF

2ms(1kHz,FAST,顯示OFF，代表值)

DC偏壓測(cè)量、直流電阻溫度補(bǔ)償

（標(biāo)準(zhǔn)溫度換算顯示）,比較器、BIN測(cè)量（分類功能）,面板讀取/保存、存儲(chǔ)功能

EXT I/O(處理器)，USB通信(高速)，USB存儲(chǔ)

選件：RS-232C,GP-IB,LAN任選一

100～240V AC，50/60Hz，大50VA

330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg

電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1，CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1

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