<<<——SciAps-XRF手持式光譜金屬分析儀介紹——

X - 300 SciAps-XRF手持式光譜金屬分析儀擁有更快的分析速度和更準(zhǔn)確的分析結(jié)果。它通過使用高性能的SDD探測(cè)器和脈沖處理電子，加上一個(gè)高度優(yōu)化的X射線管和探測(cè)幾何，以大限度地提高計(jì)數(shù)率。

對(duì)于合金測(cè)試，X - 300可檢測(cè)幾乎所有合金，并在鎂鋁合金檢測(cè)方面擁有無語倫比的高性能。 高分辨率的探測(cè)器對(duì)合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設(shè)計(jì)優(yōu)化了鎂合金的檢測(cè)，對(duì)快速準(zhǔn)確的鋁合金分析至關(guān)重要。

X - 300擁有同類型產(chǎn)品中更快的分析速度和更準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

它通過使用高性能的SDD探測(cè)器和脈沖處理電子，加上一個(gè)高度優(yōu)化的x射線管和探測(cè)幾何，以大限度地提高計(jì)數(shù)率。
對(duì)于合金測(cè)試，X - 300可檢測(cè)幾乎所有合金，并在鎂鋁合金檢測(cè)方面擁有無語倫比的高性能。

高分辨率的探測(cè)器對(duì)合金、高溫度和其他特殊合金具有很高的性能。該分析儀的設(shè)計(jì)優(yōu)化了鎂合金的檢測(cè)，對(duì)快速準(zhǔn)確的鋁合金分析至關(guān)重要。

地球化學(xué)應(yīng)用x - 300提供了更低的檢出限（LOD）和更高的測(cè)量精度。

分析儀采用基本參數(shù)法（fundamental parameters）、康普頓標(biāo)準(zhǔn)化法（Compton Normalization）及經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（empirical calibration）校正。符合美國EPA Method 6200使用規(guī)范要求。