R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3765CH-R3765CH-R3765CH

R3764CH-R3764CH-R3764CH愛得萬網絡分析儀功能介紹：

R3764/3765系列網絡分析儀可以進行10kHz RBW（IF帶寬）的0.25ms/點的快速測量。R3764系列可以作為一個系統(tǒng)的組成部分，而R3765系列可應用于生產線或工程中。每一系列包括三種型號：A型（基本型），B型（內置電橋）和C型（內置S參數(shù)測試裝置）。由于使用熒光特性顯象管的簡單結構，R3764系列的價格相對比較便宜，而R3765系列采用獨立的分析儀功能和容易讀數(shù)的7.8英寸大TFT彩色LCD顯示，所以很容易進行數(shù)據(jù)比較和模式分析。內置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和條碼輸入功能，使它很容易完成測量、分析和評估以及建立一個高速ATE（自動測試裝置）系統(tǒng)。因此，R3764/3765系列在使用標準FDD格式（720K，1.2M和1.44M字節(jié)）和內部標準SCPI指令的情況下，非常適合作為系統(tǒng)組成部分。

R3764CH-R3764CH-R3764CH愛得萬網絡分析儀技術參數(shù)：

測量頻率范圍：40MHz~3.8GHz
用于特定場合的三種類型：
....A型：基本型
....B型：內置電橋型
....C型：內置S參數(shù)測試裝置
高速掃描
....0.15毫秒/點（帶有標稱校準）
高速測量：0.15毫秒/點
具有4通道和8跡線的多功能顯示
100dB寬動態(tài)范圍
對于掃描中不同RBW和輸出電平的標準程序掃描功能

針對不同應用的可選擇佳系統(tǒng)
    根據(jù)你應用需要可以從R3764/3765系列中選擇出佳型號。A型提供了內置信號隔離器和兩個輸入終端，可同時進行兩個器件的測量。將A型連接到選件雙工器測試裝置上，它可以用在手提前部，用三個端口（AND、RX和TX端口）進行雙工器測量。當作為選件功放測試裝置的組成部分時，主機可以修正并可同選件VIGs連用，這樣手提的功放就可以測量了。在這種情況下，A型可以滿足多種應用場合。
    B型裝有功分器和SWR電橋，能夠同時測量傳輸和反射。當使用B型時，通過校準1口就可實現(xiàn)高精度測量。
    C型裝有S參數(shù)測試裝置，這種裝置提供了功分器和兩個SWR電橋以及一個用于正向/反向轉換的半導體轉換開關。在自動反向模式中，C型可以高精度測量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。

作為系統(tǒng)的組成成分
    32字×8行的熒光屏顯示，R3764A/B/C（3.8GHz）

獨立應用
7.8英寸TFT彩色LCD，R3765A/B/C（3.8GHz）
儀器類型 特征 應用 典型應用場合
單極性BPF 多極性BPF 雙工器 功放 2-DUT同時測量 
A型通用模式R3764A，R3765A 測試裝置連接 〇 〇 〇 預處理：介質濾波器 雙工器 SAW濾波器等檢查過程：功放等
B型|Z|測量模式（低成本類型）R3764B,R3765B 內置電橋傳輸反射同時測量 〇 預處理：介質濾波器 雙工器 移動臺天線等檢查過程：移動天線等
C型參數(shù)全部測量模式R3764C，R3765C 內置S參數(shù)測試裝置正向/反向測量 ○

0.15ms/點的高速掃描
   在電介質濾波器、SAW濾波器、隔離器、環(huán)行器、功率放大器、天線和其它電子元件的生產線的測量系統(tǒng)中，產量是一個至關重要的參數(shù)。R3764/3765系列能夠實現(xiàn)0.15ms/點（10kHz RBW和歸一化校準）或0.25ms/點    （10kHz RBW和2端口校準）的掃描速度。

具有4通道和8跡線的多功能顯示
   由于具有4通道和8跡線顯示功能，R3765C能夠在直角坐標和極性坐標中用Smith圓圖對2端口器件的四個S參數(shù)（S11，S21，S22和S12）同時進行顯示，這樣就便于對測量數(shù)據(jù)進行快速分析。而且，具有TFT彩色LCD的        R3764/3765系列網絡分析儀通過使用重疊數(shù)據(jù)顯示和限制線功能可以對數(shù)據(jù)進行識別。

100dB寬動態(tài)范圍
    作為信息和通訊設備用于窄帶和高頻測量時，它內部裝有用于測量電介質和SAW濾波器的更高、更真實性能指標的指令。R3764/3765系列的100dB寬動態(tài)范圍（10Hz RBW）非常適合于測試這類電子元件，例如測量通常的波紋和阻帶的失真信號。

針對不同RBW和輸出電平的標準程序掃描功能
    程控掃描功能可以設置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時，通過改變分辨率帶寬和輸出電平可以實現(xiàn)通帶和阻帶中的更快速和更的特性測量。

技術指標

測量功能
...顯示通道：2通道（4跡線）：A型和B型
............4通道（8跡線）：C型
顯示參數(shù)：

R3764A/3765A R3764B/3765B 
R3764C/3765C 
A/R，B/R 傳輸，反射傳輸＆反射 S11，S21，S22，S12
S11＆S21，S22＆S12

格式
...直角坐標：對數(shù)/線性幅度，相位，群延遲或復雜參數(shù)的實部和虛部
............[Z]，R，X：（在阻抗轉換測量中）
............[Y]，G，B：（在導納轉換測量中）
...相位顯示擴展功能
...Smith圖表（只限于R3765）：對數(shù)/線性幅度，相位，實部和虛部，R+jX，G+jB
...極性坐標（只限于R3765）：對數(shù)/線性幅度，相位，實部和虛部

信號源特性
...測量頻率：
......范圍：40MHz~3.8GHz
......分辨率：1Hz
......精度：±20ppm（25℃±5℃）

...輸出電平：
......范圍：+17dBm~-8 dBm（A型）
.........+7 dBm ~-18 dBm（B型）
.........+10 dBm ~-15 dBm（C型）
....分辨率：0.01dB
....精度：±0.5dB（50MHz，0dBm，25℃±5℃）
....線性度：25℃±5℃
A型 B型 C型
±0.4dB +12 dBm ~-3 dBm +2 dBm ~-13 dBm +5 dBm ~-10 dBm
±0.7dB +17 dBm ~-8 dBm +7 dBm ~-18 dBm +10 dBm ~-15 dBm
平坦度： 2.0dBp-p（25℃±5℃）
輸出阻抗：50歐姆

信號純度：
諧波失真：≥-20dBc（在大輸出時）
非諧波失真：≥25dBc（在大輸出時）
相位噪聲：在10kHz偏差和1Hz帶寬處，-85dBc+20log（f/40MHz）

掃描功能
掃描參數(shù)：頻率和信號電平
大掃描范圍：
頻率范圍：40MHz~3.8GHz
信號電平：+17dBm~-8 dBm（A型）
+7 dBm ~-18 dBm（B型）
+10 dBm ~-15 dBm（C型）
范圍設置：STAR/STOP或CENTER/SPAN
掃描類型：線性/對數(shù)頻率掃描，部分和目標值頻率掃描，電平掃描，CW（信號頻率）掃描
掃描時間：0.15ms/點（歸一化）
0.25ms/點（2端口同時校準）
小的掃描時間取決于測量格式，誤差修正模式，每點的掃描寬度，測量點的數(shù)量和IF帶寬。
測量點：3，6，11，21，51，101，201，301，40
掃描觸發(fā)：可由"連續(xù)，保持，單一掃描"或"外部觸發(fā)"中設置
掃描模式：
雙通道掃描：兩個通道以同樣的頻率范圍進行掃描
不同掃描：兩個通道以不同的掃描類型和不同的頻率范圍進行掃描

接收機特性
分辨率帶寬：10kHz~10Hz

幅度特性
幅度分辨率：0.001dB
動態(tài)分辨率：參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±0.3dB
-10~-20dB ±0.05dB
-20~-50dB ±0.05dB
-50~-60dB ±0.1dB
-60~-70dB ±0.15dB
-70~-80dB ±0.40dB
-80~-90dB ±1.00dB
測量精度：±0.5dB（-10dBm，25℃±5℃）

相位特性
測量范圍：±180°（相位過± 180°時可以借助于相位顯示擴展功能進行顯示）
相位分辨率：0.01
頻率特性：±5°（25℃±5℃）
動態(tài)精度：參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±5.0°
-10~-20dB ±0.3°
-20~-50dB ±0.3°
-50~-60dB ±0.4°
-60~-70dB ±1.5°
-70~-80dB ±4.0°
-80~-90dB ±8.0°
群延遲時間特性
范圍：按下列公式計算：
γ=ΔΦ/（360×Δf）
ΔΦ：相位
Δf：孔徑頻率
測量范圍：1ps~250s
群延遲時間分辨率：1ps
孔徑頻率:等于^f。可以A%的分辨率在頻率帶寬的A%~范圍內設置。
A=100/（測量點-1）
精度：相位精度/[360×孔徑頻率（Hz）]

測試端口特性
測試端口回波損耗：25℃±5℃
18dB（40MHz~2.6GHz）
16dB（2.6GHz~3.8GHz）
方向性：25℃±5℃
30dB（40MHz~2.6GHz）
26dB（2.6GHz~3.8GHz）
串音
A/B型 C型
90dB 90dB（40MHz~2.6GHz）
85dB（2.6GHz~3.8GHz）
連接器：N型（f），50歐姆
噪聲電平：測試端口的大輸入電平
-90dBc（3kHz BW）
-100dBc（10kHz BW）
大輸入電平：0dBm（A/B型）
+15dBm（C型）
輸入破壞電平：+20dBm

誤差修正功能
    歸一化：在傳輸和反射測量中，頻率響應（包括幅度和相位）被修正。
    1端口校準：在反射測量中，電橋方向性、頻率響應和源匹配引起的誤差被修正。（在誤差修正中需要短路器、開路器和負載）
    2端口校準：在傳輸和反射測量中，方向性、頻率響應和源匹配引起的誤差、負載匹配、和隔離度被修正。
    數(shù)據(jù)平均：對每次掃描的數(shù)據(jù)（矢量）進行平均。平均次數(shù)可在2~999范圍內選擇。
    數(shù)據(jù)平滑功能：在鄰近的測量點間取平均。
    電子長度修正：測量相位和群延遲時間加上相同電子長度或延遲時間。
    相位偏差修正：連續(xù)見相位偏差加到測量的相位上

顯示部分
R3764系列：
顯示單元：熒光屏顯象管（綠色）
分辨率：256×64點
顯示模式：字母顯示模式，8行，每行32字母

R3765系列：
顯示單元：7.8英寸TFT彩色LCD
分辨率：640×480
顯示模式：直角LOG/線性坐標，極性坐標，史密斯圖表（阻抗/導納顯示）
測量條件顯示：起始/終止頻率，中心頻率/帶寬，標尺/格，參考電平，光標值，軟按件功能，告警語句
參考線位置：：垂直坐標的上部
0%：內存的底部
自動標尺：參考值和標尺被設置好，這樣測量跡線可以在佳的位置上進行顯示
亮度：黑屏可以打開或關閉

其它功能
光標功能：（僅限于R3765系列）
光標顯示：光標讀數(shù)可以轉換成與每次測量格式相關的顯示值。
多光標：每個通道可設置高達10個光標。
Delta光標：10個光標中任一個都可設定為參考光標，這樣就可測量兩個光標間的Delta值。
光標偶合：每個通道光標都可以組合或獨立的形式進行設置。
MKR搜索：MAX（大值）搜索，MIN（小值）搜索，NEXT（下一個）搜索
光標跟蹤：每次掃描都能進行光標跟蹤。 
目標值搜索：用-X dB，中心頻率和Q值計算點的帶寬和用相位0，±X頻率寬度搜索頻率點。
MKR→：MKR→參考值，MKR→START（起始頻率），MKR→STOP（終止頻率），MKR→CENTER（中心頻率）

程控功能
BASIC控制器功能：
標準的控制器功能可以對儀器或通過GPIB接口多其他測量儀器進行控制。
內置功能：借助內置功能可以進行高速數(shù)據(jù)分析。
FDD功能：符合MS-DOS格式，兼容3種模式（DD 720KB，HD 1.2MB/1.4MB）

系統(tǒng)功能
外部監(jiān)視器輸出：可接到VGA
GPIB：支持IEEE488.2通用指令和SCPI指令
24位輸入和輸出：TTL電平，8位輸出（2端口），4位輸入/輸出（2端口）
RS232：串行輸入/輸出接口，符合RS-232C接口標準。
外部參考頻率輸入：1，2，5，10MHz，0dBm

一般指標
工作環(huán)境：
在使用FDD時：
工作溫度：+5~+40℃
工作濕度：≤80%（非凝結）
在沒使用FDD時：
工作溫度：+0~+50℃
工作濕度：≤80%（非凝結）
存儲環(huán)境：-20~+60℃
電源：100~240VAC，48~60Hz
尺寸：近似為424（長）×220（高）×400（寬）mm

R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3764CH-R3764CH-R3764CH

R3764BH-R3765BH-R3765BH

R3764CH-R3764CH-R3764CH